Компания АО "Руспром" поставляет следующие заказные комплексы автоматизированных измерений параметров изделий микроэлектроники и тестовые адаптеры:

"ЕТС-780" предназначен для воспроизведения и измерения напряжения и силы постоянного тока, частоты следования прямоугольных импульсов и применяется для высокопроизводительного функционального и параметрического контроля ТТЛ и КМОП микросхем с числом выводов до 512 с рабочей частотой до 50 МГц. Тестер ЕТС-780 обеспечивает формирование тестовой последовательности длиной до 4М наборов векторов с числом каналов 128 (с возможностью расширения до 512).

Более подробная информация находится здесь.


"ДМТ–141" представляет собой программно–аппаратный комплекс, обеспечивающий проведение неразрушающих испытаний на контроль свободно перемещающихся частиц внутри корпуса по уровню шума в соответствии с ОСТ II 073.013-83 и ГОСТ 20.57.406-81, объединяющий в своем составе, базовый блок типа BW-4000, осциллограф двулучевой модель 72-6800, усилитель мощности типа BW-PA-4000, вибростенд типа BW-100C, микрофон (детектор частиц) типа BW-004XL, акселерометр и ножная педаль включения проведения испытаний.

Более подробная информация находится здесь.


"ДМТ–120" представляет собой сложный программно–аппаратный комплекс, объединяющий в своем составе три управляющие ПЭВМ, один канал измерения LCR, три канала калибраторов/мультиметров и один канал источника питания постоянного тока. Комплекс ДМТ–120 предназначен для получение семейства ВАХ диодов, биполярных и полевых транзисторов, проведение измерений параметров емкостей, индуктивностей и резисторов, определение параметров активных и пассивных двухполюсников и четырехполюсников.

Более подробная информация находится здесь.


Для подключения исследуемых электронных компонентов к измерительному комплексу используются контактирующие устройства серии ДМТ для корпусов ТО-3Р, ТО-247, ТО-220, ТО-3, SOT-23, TО-92 и компонентов с аксиальными выводами.

Более подробная информация находится здесь.


"ДМТ–119" представляет собой сложный программно–аппаратный комплекс, объединяющий в своем составе управляющую ПЭВМ, четыре канала генерирования сигналов перекрывающих диапазон частот от 0 Гц до 200 МГц. В зависимости от выполняемых задач, для анализа и измерения сигналов в Комплексе ДМТ–119 имеются семь каналов измерения входных сигналов со схемой коммутации. Для питания исследуемых ИМС или других устройств Комплекс ДМТ–119 имеет в своем составе два регулируемых источника питания постоянного тока. При измерениях параметров ЦАП, АЦП и ИМС смешанных сигналов Комплекс ДМТ–119 может работать совместно с цифровыми тестерами такими, например, как ЕТС–780 и другими.

Более подробная информация находится здесь.


"ДМТ–119/1" представляет собой сложный программно–аппаратный комплекс, объединяющий в своем составе четыре аналоговых и шестнадцать цифровых каналов измерения параметров сигналов, канал измерения сигнала в диапазоне частот от 100 Гц до 3 ГГц, четыре канала источников питания постоянного тока и канал генерирования синусоидальных сигналов в диапазоне частот от 250 кГц до 3 ГГц. Комплекс ДМТ–119/1 предназначен для расширения возможностей Комплекса ДМТ–119 и работы с ним под управлением одной управляющей ПЭВМ. Конструктивно комплекс выполнен в виде шкафа с установленными в него отдельными приборами, объединенных с помощью шины GPIB в единый измерительный комплекс под управлением внешней управляющей ПЭВМ.

Более подробная информация находится здесь.


"ДМТ–118" представляет собой сложный программно–аппаратный комплекс, объединяющий в своем составе управляющую ПЭВМ, первый канал генерирования, перекрывающий диапазон частот от 250 кГц до 20 ГГц. В зависимости от выполняемых задач, для анализа и измерения сигналов в Комплексе ДМТ–118 имеются первый канал измерений (Анализатор спектра) и второй канал генерирования/измерения (Векторный анализатор). Для питания исследуемых ИМС или других устройств Комплекс ДМТ–118 имеет в своем составе два канала источника питания постоянного тока. При измерениях параметров ЦАП, АЦП и ИМС смешанных сигналов Комплекс ДМТ–118 может работать совместно с цифровыми тестерами такими, например, как ЕТС–780 и другими.

Более подробная информация находится здесь.


"ДМТ-117/64" предназначен для тестирования динамических и статических параметров многофункциональных БИС с количеством выводов до 64. Ориентация на анализ многофункциональных БИС привела к необходимости отказа от широко распространенной pin-электроники, что, в свою очередь позволило реализовать задание режимов и измерения в расширенном диапазоне напряжений (свыше 20 В постоянного напряжения, до 20 В (при 40 МГц)/ 10 В (при 100 МГц)/7 B(при 150 МГц) импульсного и до 10 В размаха сигналов произвольной формы), при сохранении предельно жестких требований по амплитудно-временным характеристикам сигналов и высокой скорости измерений параметров.

"ДМТ-115/320" предназначен для тестирования динамических и статических параметров цифровых (смешанных) многофункциональных БИС с количеством цифровых выводов до 320 на частотах до 50 МГц. Это оптимальный выбор для тестирования основной гаммы логических ИМС, микроконтроллеров, процессоров (в том числе ЦОС), коммуникационных ИМС.

"ДМТ-113/16" предназначен для тестирования динамических и статических параметров ПЗС/КМОП линеек и матриц.

Измерительные комплексы

Задачи, решаемые в современных условиях программно-аппаратными комплексами:

  • Тестирование и функциональный контроль цифровых, аналоговых и аналого-цифровых БИС, СБИС и изделий функциональной электроники.
  • Системы технологического тестирования изделий микроэлектроники в процессе производства (в том числе зондовые манипуляторы для обеспечения контроля DC, CV, AC характеристик).
  • Исследовательские комплексы прецизионных измерений параметров полупроводниковых структур и генерации модельных характеристик активных и пассивных элементов цифровых и аналоговых БИС и СБИС, имеющие в составе специализированные аппаратные (различные измерители, зондовые манипуляторы для измерений в диапазоне частот до 110 ГГц, устройства обеспечения температурных режимов) и программные (IC-CAP) средства.

Поставляемые программно-аппаратные измерительные комплексы можно разделить (достаточно условно) на 3 основные группы:

  • Объединение стандартных приборов (источники питания, электронные нагрузки, различные генераторы сигналов, осциллографы, мультиметры, частотомеры, измерители АЧХ, анализаторы спектра и т.д.) в единую систему по НP-IB или LAN интерфейсу с управляющей ПЭВМ. Такой подход обеспечивает максимальную гибкость измерений при невысоких требованиях к производительности и может быть рекомендован для работы в лабораторных условиях и небольших серий.
  • Создание компактных измерительных стендов на базе стандартизованных измерительных средств (VEE, LabVIEW), специализированных измерительных шин (VXI, PXI и т.д.), приборов-слотов - аналогов стандартных в едином "мэйнфрейме", что дает повышение производительности (как следствие, уменьшение себестоимости) измерений за счет повышения скорости обмена информацией, гибкой синхронизации, уменьшение времени разработки как тестера, так и конкретной измерительной программы, повышение надежности систем, уменьшение массогабаритных характеристик.
  • Общим подходом в создании производственных аналитических программно-аппаратных комплексов является ярко выраженная ориентация на определенный класс или группу тестируемых изделий, специализированных по функциональному признаку - изделия памяти, микроконтроллеры и микропроцессоры, функциональные узлы с использованием аналоговых и цифровых методов обработки, СВЧ-устройства и т.д.